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Investigating degradation mechanisms in 130nm and 90nm commercial CMOS technologies exposed to up to 100 Mrad ionizing radiation dose
2007-01-01 Traversi, Gianluca; Pantano, Devis; Ratti, Lodovico; Manghisoni, Massimo; Gaioni, Luigi
Impact of gate-leakage current noise in sub-100 nm CMOS front-end electronics
2007-01-01 Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Gaioni, Luigi; Speziali, Valeria; Ratti, Lodovico
Perspectives for low noise detector readout in a sub-quarter-micron CMOS SOI technology
2007-01-01 Re, Valerio; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Gaioni, Luigi; Traversi, Gianluca; Speziali, Valeria; Yarema, Ray
Recent developments in 130 nm CMOS monolithic active pixel detectors
2007-01-01 Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Gabrielli, A.; Giacobbe, B.; Semprini, ; N., Spighi; Villa, M.; Zoccoli, A.; Verzellesi, G.; Andreoli, G.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.
Development of a triple well CMOS MAPS device with in-pixel signal processing and sparsified readout capabilities
2007-01-01 Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Gabrielli, A.; Giacobbe, B.; Semprini, N.; Spighi, R.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Verzellesi, G.; Andreoli, C.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bosisio, L.; Giacomini, L.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.
Instrumentation for gate current noise measurements on sub-100 nm MOS transistors
2008-01-01 Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca
Investigating Degradation Mechanisms in 130 nm and 90 nm Commercial CMOS Technologies Under Extreme Radiation Conditions
2008-01-01 Traversi, Gianluca; Ratti, Lodovico; Manghisoni, Massimo; Gaioni, Luigi; Pantano, Devis
Comprehensive study of total ionizing dose damage mechanisms and their effects on noise sources in a 90 nm CMOS technology
2008-01-01 Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca
Recent development on triple well 130 nm CMOS MAPS with in-pixel signal processing and data sparsification capability
2008-01-01 Rizzo, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.
CMOS technologies in the 100 nm range for rad-hard front-end electronics in future collider experiments
2008-01-01 Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca
Noise behavior of a 180 nm CMOS SOI technology for detector front-end electronics
2008-01-01 Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca; Yarema, Ray
Review of radiation effects leading to noise performance degradation in 100-nm scale microelectronic technologies
2008-01-01 Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca
3D DNW MAPS for High Resolution, Highly Efficient, Sparse Readout CMOS Detectors
2009-01-01 Ratti, Lodovico; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca
On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device
2009-01-01 Gabrielli, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Betta, G. F. D.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Di Sipio, R.; Bruschi, M.; Giacobbe, B.; Giorgi, F.; Semprini, N.; Sbarra, C.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.
MAPS with pixel level sparsified readout: from standard CMOS to vertical integration
2009-01-01 Gaioni, Luigi; Manazza, Alessia; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Traversi, Gianluca
The associative memory for the self-triggered SLIM5 silicon telescope
2009-01-01 Batignani, G.; Bettarinil, S.; Calderini, G.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgil, M. A.; Lusiani, A.; Grcgucci, S.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Rizzo, G.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurstev, E.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, Leonardo; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Gamba, D.; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Giacobbe, B.; Gabrielli, Andrea; Giorgi, F.; Pellegrini, Giuseppe Iginio; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.
TID effects in deep N-well CMOS monolithic active pixel sensors
2009-01-01 Ratti, Lodovico; Andreoli, Claudio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Pozzati, Enrico; Re, Valerio; Traversi, Gianluca
Development of deep N-well MAPS in a 130 nm CMOS technology and beam test results on a 4k-Pixel matrix with digital sparsified readout
2009-01-01 Rizzo, G.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Cresciol, F.; Dell'Orsoa, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Sipio, R. Di; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, E.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Betta, G. F. Dalla; Soncini, G.; Fontana, G.; Bombe, M.; Bosisk, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Jugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G.
Charge Signal Processors in Sparse Readout CMOS MAPS and Hybrid Pixel Sensors for the SuperB Layer0
2009-01-01 Traversi, Gianluca; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio
A 4096-pixel MAPS device with on-chip data sparsification
2009-01-01 Gabrielli, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsan, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Di Sipio, R.; Bruschi, M.; Giacobbe, B.; Giorgi, F.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.
Data di pubblicazione | Titolo | Autore/i | Tipologia | Documento allegato |
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1-gen-2007 | Investigating degradation mechanisms in 130nm and 90nm commercial CMOS technologies exposed to up to 100 Mrad ionizing radiation dose | Traversi, Gianluca; Pantano, Devis; Ratti, Lodovico; Manghisoni, Massimo; Gaioni, Luigi | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2007 | Impact of gate-leakage current noise in sub-100 nm CMOS front-end electronics | Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Gaioni, Luigi; Speziali, Valeria; Ratti, Lodovico | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2007 | Perspectives for low noise detector readout in a sub-quarter-micron CMOS SOI technology | Re, Valerio; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Gaioni, Luigi; Traversi, Gianluca; Speziali, Valeria; Yarema, Ray | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2007 | Recent developments in 130 nm CMOS monolithic active pixel detectors | Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Gabrielli, A.; Giacobbe, B.; Semprini, ; N., Spighi; Villa, M.; Zoccoli, A.; Verzellesi, G.; Andreoli, G.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2007 | Development of a triple well CMOS MAPS device with in-pixel signal processing and sparsified readout capabilities | Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Gabrielli, A.; Giacobbe, B.; Semprini, N.; Spighi, R.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Verzellesi, G.; Andreoli, C.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bosisio, L.; Giacomini, L.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2008 | Instrumentation for gate current noise measurements on sub-100 nm MOS transistors | Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2008 | Investigating Degradation Mechanisms in 130 nm and 90 nm Commercial CMOS Technologies Under Extreme Radiation Conditions | Traversi, Gianluca; Ratti, Lodovico; Manghisoni, Massimo; Gaioni, Luigi; Pantano, Devis | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2008 | Comprehensive study of total ionizing dose damage mechanisms and their effects on noise sources in a 90 nm CMOS technology | Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2008 | Recent development on triple well 130 nm CMOS MAPS with in-pixel signal processing and data sparsification capability | Rizzo, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2008 | CMOS technologies in the 100 nm range for rad-hard front-end electronics in future collider experiments | Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2008 | Noise behavior of a 180 nm CMOS SOI technology for detector front-end electronics | Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca; Yarema, Ray | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2008 | Review of radiation effects leading to noise performance degradation in 100-nm scale microelectronic technologies | Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, Gianluca | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | 3D DNW MAPS for High Resolution, Highly Efficient, Sparse Readout CMOS Detectors | Ratti, Lodovico; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device | Gabrielli, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Betta, G. F. D.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Di Sipio, R.; Bruschi, M.; Giacobbe, B.; Giorgi, F.; Semprini, N.; Sbarra, C.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2009 | MAPS with pixel level sparsified readout: from standard CMOS to vertical integration | Gaioni, Luigi; Manazza, Alessia; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Traversi, Gianluca | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | The associative memory for the self-triggered SLIM5 silicon telescope | Batignani, G.; Bettarinil, S.; Calderini, G.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgil, M. A.; Lusiani, A.; Grcgucci, S.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Rizzo, G.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurstev, E.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, Leonardo; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Gamba, D.; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Giacobbe, B.; Gabrielli, Andrea; Giorgi, F.; Pellegrini, Giuseppe Iginio; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | TID effects in deep N-well CMOS monolithic active pixel sensors | Ratti, Lodovico; Andreoli, Claudio; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Pozzati, Enrico; Re, Valerio; Traversi, Gianluca | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
1-gen-2009 | Development of deep N-well MAPS in a 130 nm CMOS technology and beam test results on a 4k-Pixel matrix with digital sparsified readout | Rizzo, G.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Cresciol, F.; Dell'Orsoa, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bruschi, M.; Sipio, R. Di; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, E.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Betta, G. F. Dalla; Soncini, G.; Fontana, G.; Bombe, M.; Bosisk, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Jugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | Charge Signal Processors in Sparse Readout CMOS MAPS and Hybrid Pixel Sensors for the SuperB Layer0 | Traversi, Gianluca; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
1-gen-2009 | A 4096-pixel MAPS device with on-chip data sparsification | Gabrielli, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsan, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, Luigi; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Traversi, Gianluca; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Di Sipio, R.; Bruschi, M.; Giacobbe, B.; Giorgi, F.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays |
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