(2011). Optimizing the Automatic Test Generation by SAT and SMT solving for Boolean Expressions [conference presentation - intervento a convegno]. Retrieved from http://hdl.handle.net/10446/25719

Optimizing the Automatic Test Generation by SAT and SMT solving for Boolean Expressions

ARCAINI, Paolo;GARGANTINI, Angelo Michele;
2011-01-01

2011
Arcaini, Paolo; Gargantini, Angelo Michele; Riccobene, Elvinia
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