(2011). Optimizing the Automatic Test Generation by SAT and SMT solving for Boolean Expressions [conference presentation - intervento a convegno]. Retrieved from http://hdl.handle.net/10446/25719
Optimizing the Automatic Test Generation by SAT and SMT solving for Boolean Expressions
ARCAINI, Paolo;GARGANTINI, Angelo Michele;
2011-01-01
File allegato/i alla scheda:
Non ci sono file allegati a questa scheda.
Pubblicazioni consigliate
Aisberg ©2008 Servizi bibliotecari, Università degli studi di Bergamo | Terms of use/Condizioni di utilizzo