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Radiation effects on the noise parameters of a 0.18 mu m CMOS technology for detector front-end applications
2003-01-01 Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca
Radiation hardness and monitoring of the BaBar vertex tracker
2004-01-01 Re, Valerio; A. A. V., V.
Radiation hardness assurance of the CLARO8 front-end chip for the LHCb RICH detector upgrade
2017-01-01 Andreotti, Michael; Baldini, W.; Baszczykc, M.; Calabrese, R.; Candelori, A.; Carniti, P.; Cassina, L.; Ramusino, A. C.; Dorosz, P.; Fiorini, M.; Giachero, A.; Gotti, C.; Kucewicz, W.; Luppi, E.; Maino, M.; Malaguti, R.; Mattiazzo, Serena; Minzoni, L.; Pappalardo, L. L.; Pessina, G.; Silvestrin, L.; Tomassetti, L.
Radiation hardness perspectives for the design of analog detector readout circuits in the 0.18-um CMOS generation
2002-01-01 Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Speziali, Valeria
Radiation hardness studies on CMOS monolithic pixel sensors
2010-01-01 Battaglia, Marco; Bisello, D.; Contarato, D.; Denes, P.; Doering, D.; Giubilato, P.; Kim, T. S.; Mattiazzo, Serena; Radmilovic, V.; Zalusky, S.
Radiation hardness trends in new microelectronic technologies for the readout of semiconductor detectors
2013-01-01 Re, Valerio
Radiation tests of single photon avalanche diode for space applications
2013-01-01 Moscatelli, Francesco; Marisaldi, Martino; Maccagnani, Piera; Labanti, Claudio; Fuschino, Fabio; Prest, Michela; Berra, Alessandro; Bolognini, Davide; Ghioni, Massimo; Rech, Ivan; Gulinatti, Angelo; Giudice, Andrea; Simmerle, Georg; Candelori, Andrea; Mattiazzo, Serena; Sun, Xiaoli; Cavanaugh, John F.; Rubini, Danilo
Radiation tolerance characterization of Geiger-mode CMOS avalanche diodes for a dual-layer particle detector
2019-01-01 Musacci, M.; Bigongiari, G.; Brogi, P.; Checchia, C.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Noli, S.; Pancheri, L.; Ratti, L.; Savoy Navarro, A.; Silvestrin, L.; Stolzi, F.; Suh, J.; Sulaj, A.; Vacchi, C.; Zarghami, M.
Radiation tolerance of a moderate resistivity substrate in a modern CMOS process
2013-01-01 Potenza, A.; Bisello, D.; Caselle, M.; Costa, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Ikemoto, Y.; Mansuy, C.; Marchioro, A.; Mattiazzo, Serena; Moll, M.; Pacher, L.; Pacifico, N.; Pantano, D.; Rivetti, A.; Silvestrin, L.; Snoeys, W.
Radiation tolerance of devices and circuits in a 3D technology based on the vertical integration of two 130-nm CMOS layers
2013-12-03 Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manazza, Alessia; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca
| Data di pubblicazione | Titolo | Autore/i | Tipologia | Documento allegato |
|---|---|---|---|---|
| 1-gen-2003 | Radiation effects on the noise parameters of a 0.18 mu m CMOS technology for detector front-end applications | Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2004 | Radiation hardness and monitoring of the BaBar vertex tracker | Re, Valerio; A. A. V., V. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2017 | Radiation hardness assurance of the CLARO8 front-end chip for the LHCb RICH detector upgrade | Andreotti, Michael; Baldini, W.; Baszczykc, M.; Calabrese, R.; Candelori, A.; Carniti, P.; Cassina, L.; Ramusino, A. C.; Dorosz, P.; Fiorini, M.; Giachero, A.; Gotti, C.; Kucewicz, W.; Luppi, E.; Maino, M.; Malaguti, R.; Mattiazzo, Serena; Minzoni, L.; Pappalardo, L. L.; Pessina, G.; Silvestrin, L.; Tomassetti, L. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2002 | Radiation hardness perspectives for the design of analog detector readout circuits in the 0.18-um CMOS generation | Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Re, Valerio; Speziali, Valeria | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2010 | Radiation hardness studies on CMOS monolithic pixel sensors | Battaglia, Marco; Bisello, D.; Contarato, D.; Denes, P.; Doering, D.; Giubilato, P.; Kim, T. S.; Mattiazzo, Serena; Radmilovic, V.; Zalusky, S. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2013 | Radiation hardness trends in new microelectronic technologies for the readout of semiconductor detectors | Re, Valerio | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2013 | Radiation tests of single photon avalanche diode for space applications | Moscatelli, Francesco; Marisaldi, Martino; Maccagnani, Piera; Labanti, Claudio; Fuschino, Fabio; Prest, Michela; Berra, Alessandro; Bolognini, Davide; Ghioni, Massimo; Rech, Ivan; Gulinatti, Angelo; Giudice, Andrea; Simmerle, Georg; Candelori, Andrea; Mattiazzo, Serena; Sun, Xiaoli; Cavanaugh, John F.; Rubini, Danilo | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Radiation tolerance characterization of Geiger-mode CMOS avalanche diodes for a dual-layer particle detector | Musacci, M.; Bigongiari, G.; Brogi, P.; Checchia, C.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Noli, S.; Pancheri, L.; Ratti, L.; Savoy Navarro, A.; Silvestrin, L.; Stolzi, F.; Suh, J.; Sulaj, A.; Vacchi, C.; Zarghami, M. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2013 | Radiation tolerance of a moderate resistivity substrate in a modern CMOS process | Potenza, A.; Bisello, D.; Caselle, M.; Costa, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Ikemoto, Y.; Mansuy, C.; Marchioro, A.; Mattiazzo, Serena; Moll, M.; Pacher, L.; Pacifico, N.; Pantano, D.; Rivetti, A.; Silvestrin, L.; Snoeys, W. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 3-dic-2013 | Radiation tolerance of devices and circuits in a 3D technology based on the vertical integration of two 130-nm CMOS layers | Re, Valerio; Gaioni, Luigi; Manazza, Alessia; Manghisoni, Massimo; Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays |
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