MATTIAZZO, Serena Statistiche
MATTIAZZO, Serena
Dipartimento di Ingegneria e Scienze Applicate
1-GRad-TID Effects in 28-nm Device Study for Rad-Hard Analog Design
2020-01-01 De Matteis, Marcello; Resta, F.; Pipino, A.; Fary, F.; Mattiazzo, Serena; Enz, C.; Baschirotto, A.
Measurements and simulations of surface radiation damage effects on IFX and HPK test structures
2020-01-01 Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, Serena; Dalla Betta, G. -F.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Hinger, V.; Bilei, G. M.
RD53 analog front-end processors for the ATLAS and CMS experiments at the high-luminosity LHC
2020-01-01 Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, Tianqi; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; de Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; della Casa, G.; Demaria, N.; Mazza, Giulia; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivetti, A.; da Rocha Rolo, M. D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Passeri, D.; Placidi, P.; Gajanana, D.; Gromov, V.; van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Emriskova, N.; Orfanelli, S.; Marconi, Silvana; Jara Casas, L. M.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Dimitrievska, A.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.
A 110 nm CMOS process for fully-depleted pixel sensors
2019-01-01 Pancheri, L.; Olave, J.; Panati, S.; Rivetti, A.; Cossio, F.; Rolo, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Pantano, D.; Mattiazzo, Serena
Analysis of surface radiation damage effects at HL-LHC fluences: Comparison of different technology options
2019-01-01 Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, Serena; Betta, G. F. D.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Konig, A.; Hinger, V.; Bilei, G. M.
Calorimeter prototyping for the iMPACT project pCT scanner
2019-01-01 Pozzobon, Nicola; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; Bonini, Chiara; Di Ruzza, Benedetto; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Davis; Silvestrin, Luca; Snoeys, Walter; Wyss, Jeffery
Characterization and Modeling of Gigarad-TID-Induced Drain Leakage Current of 28-nm Bulk MOSFETs
2019-01-01 Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Borghello, Giulio; Faccio, Federico; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian
Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons
2019-01-01 Ratti, L.; Brogi, P.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Lodola, L.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Musacci, M.; Pancheri, L.; Vacchi, C.
Influence of Halo Implantations on the Total Ionizing Dose Response of 28-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrahigh Doses
2019-01-01 Bonaldo, Stefano; Mattiazzo, Serena; Enz, Christian; Baschirotto, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Jin, Xiaoming; Gerardin, Simone
Radiation tolerance characterization of Geiger-mode CMOS avalanche diodes for a dual-layer particle detector
2019-01-01 Musacci, M.; Bigongiari, G.; Brogi, P.; Checchia, C.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Noli, S.; Pancheri, L.; Ratti, L.; Savoy Navarro, A.; Silvestrin, L.; Stolzi, F.; Suh, J.; Sulaj, A.; Vacchi, C.; Zarghami, M.
1GigaRad TID impact on 28 nm HEP analog circuits
2018-01-01 Resta, F.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; De Matteis, M.; Enz, C.; Baschirotto, A.
Bias Dependence of Total Ionizing Dose Effects on 28-nm Bulk MOSFETs
2018-01-01 Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Borghello, Giulio; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian
Design implementation and test results of the RD53A, a 65 nm large scale chip for next generation pixel detectors at the HL-LHC
2018-01-01 Marconi, S.; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O. L.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; Gaioni, Luigi; DE CANIO, Francesco; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Placidi, P.; Dellacasa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivett, i A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Orfanelli, S.; Jara Casas, L. M.; Conti, E.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.
iMPACT: An Innovative Tracker and Calorimeter for Proton Computed Tomography
2018-01-01 Mattiazzo, Serena; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; Di Ruzza, Benedetto; Giubilato, Piero; Iuppa, Roberto; La Tessa, Chiara; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; Ricci, Ester; Snoeys, Walter; Wyss, Jeffery
Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses
2018-01-01 Zhang, C. -M.; Jazaeri, F.; Borghello, G.; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, A.; Enz, C.
Progressive drain damage in SiC power MOSFETs exposed to ionizing radiation
2018-01-01 Abbate, C.; Busatto, G.; Mattiazzo, Serena; Sanseverino, A.; Silvestrin, L.; Tedesco, D.; Velardi, F.
1GigaRad TID impact on 28nm HEP analog circuits
2017-01-01 Resta, F.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; De Matteis, M.; Enz, C.; Baschirotto, A.
A fast and radiation-hard single-photon counting ASIC for the upgrade of the LHCb RICH detector at CERN
2017-01-01 Andreotti, M.; Baldini, W.; Baszczyk, M.; Calabrese, R.; Candelori, A.; Carniti, P.; Cassina, L.; Ramusino, A. C.; Dorosz, P.; Fiorini, M.; Giachero, A.; Gotti, C.; Kucewicz, W.; Luppi, E.; Maino, M.; Malaguti, R.; Mattiazzo, Serena; Minzoni, L.; Neri, I.; Pappalardo, L. L.; Pessina, G.; Silvestrin, L.; Tomassetti, L.
A prototype of pixel readout ASIC in 65 nm CMOS technology for extreme hit rate detectors at HL-LHC
2017-01-01 Paternò, A.; Pacher, Luca; Monteil, Ennio; Loddo, Flavio; Demaria, Lino; Gaioni, Luigi; De Canio, Francesco; Traversi, Gianluca; Re, Valerio; Ratti, Lodovico; Rivetti, Angelo; Da Rocha Rolo, Manuel D.; Dellacasa, Giulio; Mazza, G.; Marzocca, Cristoforo; Licciulli, Francesco; Ciciriello, Fabio; Marconi, S.; Placidi, Pisana; Magazzù, Guido; Stabile, Alberto; Mattiazzo, Serena; Veri, Carlo
Characterization of GigaRad Total Ionizing Dose and Annealing Effects on 28-nm Bulk MOSFETs
2017-01-01 Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Pezzotta, Alessandro; Bruschini, Claudio; Borghello, Giulio; Faccio, Federico; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian
| Data di pubblicazione | Titolo | Autore/i | Tipologia | Documento allegato |
|---|---|---|---|---|
| 1-gen-2020 | 1-GRad-TID Effects in 28-nm Device Study for Rad-Hard Analog Design | De Matteis, Marcello; Resta, F.; Pipino, A.; Fary, F.; Mattiazzo, Serena; Enz, C.; Baschirotto, A. | 1.2 Contributi in volume - Book chapters::1.2.01 Contributi in volume (Capitoli o Saggi) - Book Chapters/Essays | |
| 1-gen-2020 | Measurements and simulations of surface radiation damage effects on IFX and HPK test structures | Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, Serena; Dalla Betta, G. -F.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Hinger, V.; Bilei, G. M. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2020 | RD53 analog front-end processors for the ATLAS and CMS experiments at the high-luminosity LHC | Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, Tianqi; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; de Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; della Casa, G.; Demaria, N.; Mazza, Giulia; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivetti, A.; da Rocha Rolo, M. D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Passeri, D.; Placidi, P.; Gajanana, D.; Gromov, V.; van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Emriskova, N.; Orfanelli, S.; Marconi, Silvana; Jara Casas, L. M.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Dimitrievska, A.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2019 | A 110 nm CMOS process for fully-depleted pixel sensors | Pancheri, L.; Olave, J.; Panati, S.; Rivetti, A.; Cossio, F.; Rolo, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Pantano, D.; Mattiazzo, Serena | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Analysis of surface radiation damage effects at HL-LHC fluences: Comparison of different technology options | Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, Serena; Betta, G. F. D.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Konig, A.; Hinger, V.; Bilei, G. M. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Calorimeter prototyping for the iMPACT project pCT scanner | Pozzobon, Nicola; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; Bonini, Chiara; Di Ruzza, Benedetto; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Davis; Silvestrin, Luca; Snoeys, Walter; Wyss, Jeffery | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Characterization and Modeling of Gigarad-TID-Induced Drain Leakage Current of 28-nm Bulk MOSFETs | Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Borghello, Giulio; Faccio, Federico; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons | Ratti, L.; Brogi, P.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Lodola, L.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Musacci, M.; Pancheri, L.; Vacchi, C. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Influence of Halo Implantations on the Total Ionizing Dose Response of 28-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrahigh Doses | Bonaldo, Stefano; Mattiazzo, Serena; Enz, Christian; Baschirotto, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Jin, Xiaoming; Gerardin, Simone | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2019 | Radiation tolerance characterization of Geiger-mode CMOS avalanche diodes for a dual-layer particle detector | Musacci, M.; Bigongiari, G.; Brogi, P.; Checchia, C.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, Serena; Morsani, F.; Noli, S.; Pancheri, L.; Ratti, L.; Savoy Navarro, A.; Silvestrin, L.; Stolzi, F.; Suh, J.; Sulaj, A.; Vacchi, C.; Zarghami, M. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2018 | 1GigaRad TID impact on 28 nm HEP analog circuits | Resta, F.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; De Matteis, M.; Enz, C.; Baschirotto, A. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2018 | Bias Dependence of Total Ionizing Dose Effects on 28-nm Bulk MOSFETs | Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Borghello, Giulio; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2018 | Design implementation and test results of the RD53A, a 65 nm large scale chip for next generation pixel detectors at the HL-LHC | Marconi, S.; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O. L.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; Gaioni, Luigi; DE CANIO, Francesco; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Placidi, P.; Dellacasa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivett, i A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Orfanelli, S.; Jara Casas, L. M.; Conti, E.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2018 | iMPACT: An Innovative Tracker and Calorimeter for Proton Computed Tomography | Mattiazzo, Serena; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; Di Ruzza, Benedetto; Giubilato, Piero; Iuppa, Roberto; La Tessa, Chiara; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; Ricci, Ester; Snoeys, Walter; Wyss, Jeffery | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2018 | Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses | Zhang, C. -M.; Jazaeri, F.; Borghello, G.; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, A.; Enz, C. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2018 | Progressive drain damage in SiC power MOSFETs exposed to ionizing radiation | Abbate, C.; Busatto, G.; Mattiazzo, Serena; Sanseverino, A.; Silvestrin, L.; Tedesco, D.; Velardi, F. | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2017 | 1GigaRad TID impact on 28nm HEP analog circuits | Resta, F.; Gerardin, S.; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, A.; De Matteis, M.; Enz, C.; Baschirotto, A. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2017 | A fast and radiation-hard single-photon counting ASIC for the upgrade of the LHCb RICH detector at CERN | Andreotti, M.; Baldini, W.; Baszczyk, M.; Calabrese, R.; Candelori, A.; Carniti, P.; Cassina, L.; Ramusino, A. C.; Dorosz, P.; Fiorini, M.; Giachero, A.; Gotti, C.; Kucewicz, W.; Luppi, E.; Maino, M.; Malaguti, R.; Mattiazzo, Serena; Minzoni, L.; Neri, I.; Pappalardo, L. L.; Pessina, G.; Silvestrin, L.; Tomassetti, L. | 1.4 Contributi in atti di convegno - Contributions in conference proceedings::1.4.01 Contributi in atti di convegno - Conference presentations | |
| 1-gen-2017 | A prototype of pixel readout ASIC in 65 nm CMOS technology for extreme hit rate detectors at HL-LHC | Paternò, A.; Pacher, Luca; Monteil, Ennio; Loddo, Flavio; Demaria, Lino; Gaioni, Luigi; De Canio, Francesco; Traversi, Gianluca; Re, Valerio; Ratti, Lodovico; Rivetti, Angelo; Da Rocha Rolo, Manuel D.; Dellacasa, Giulio; Mazza, G.; Marzocca, Cristoforo; Licciulli, Francesco; Ciciriello, Fabio; Marconi, S.; Placidi, Pisana; Magazzù, Guido; Stabile, Alberto; Mattiazzo, Serena; Veri, Carlo | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays | |
| 1-gen-2017 | Characterization of GigaRad Total Ionizing Dose and Annealing Effects on 28-nm Bulk MOSFETs | Zhang, Chun-Min; Jazaeri, Farzan; Pezzotta, Alessandro; Bruschini, Claudio; Borghello, Giulio; Faccio, Federico; Mattiazzo, Serena; Baschirotto, Andrea; Enz, Christian | 1.1 Contributi in rivista - Journal contributions::1.1.01 Articoli/Saggi in rivista - Journal Articles/Essays |